ห้องทดสอบแรงช็อคทางความร้อนที่กําหนดเอง ตอบสนองมาตรฐาน JESD22-A106B

ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์ที่มีการแข่งขันสูง ห้องทดสอบการกระแทกทางความร้อนแบบกำหนดเองของเราที่ออกแบบมาเพื่อให้ตรงตามมาตรฐาน JESD22-A106B ให้การประกันคุณภาพที่สำคัญสำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ผ่านการทดสอบการกระแทกทางความร้อนอย่างเข้มงวด

ห้องทดสอบการกระแทกทางความร้อนแบบกำหนดเองนี้จะนำส่วนประกอบเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์ (รวมถึงวงจรรวม ทรานซิสเตอร์ ตัวเก็บประจุ และขั้วต่อ) ไปทดสอบการกระแทกทางความร้อนอย่างเข้มงวดตามมาตรฐาน JESD22-A106B โดยให้บริการผู้ผลิตเซมิคอนดักเตอร์ บริษัทออกแบบอิเล็กทรอนิกส์ และห้องปฏิบัติการประกันคุณภาพเพื่อประเมินความทนทานของส่วนประกอบภายใต้การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว

• ช่วงอุณหภูมิ: -80°C ถึง +150°C (ความแม่นยำ ±0.2°C)
• รอบที่ปรับแต่งได้: ตั้งแต่หลายสิบถึงหลายพันรอบการกระแทกทางความร้อน
• เวลาพัก: ปรับได้ตั้งแต่หน่วยมิลลิวินาทีถึงหลายชั่วโมง
• การปฏิบัติตาม: ตรงตามข้อกำหนดการทดสอบการกระแทกทางความร้อน JESD22-A106B ทั้งหมด