ห้องทดสอบแรงช็อคทางความร้อนที่กําหนดเอง สําหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์

ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์แบบไดนามิก ความน่าเชื่อถือและความทนทานของส่วนประกอบเป็นสิ่งสำคัญ ห้องทดสอบการกระแทกจากความร้อนแบบปรับแต่งได้ของเราช่วยให้ผู้ผลิตสามารถนำชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ไปทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิที่รุนแรง ประเมินประสิทธิภาพภายใต้สภาวะความเครียดจากความร้อนที่รุนแรง

ห้องทดสอบเหล่านี้สร้างการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว จำลองการกระแทกจากความร้อนที่ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์อาจพบเจอในระหว่างวงจรชีวิตของผลิตภัณฑ์ ตั้งแต่สมาร์ทโฟนที่เคลื่อนที่ระหว่างสภาพแวดล้อมกลางแจ้งที่เย็นไปจนถึงสภาพแวดล้อมในร่มที่อบอุ่น ไปจนถึงอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ของดาวเทียมในอวกาศ ห้องทดสอบของเราจำลองสถานการณ์เหล่านี้เพื่อระบุจุดอ่อนที่อาจเกิดขึ้นในส่วนประกอบ แผงวงจร และตัวเชื่อมต่อ

• โครงสร้างห้องที่แข็งแกร่งและมีฉนวน สร้างขึ้นด้วยวัสดุคุณภาพสูง ทนความร้อน รวมถึงภายนอกทำจากเหล็กกล้าสำหรับงานหนักและซับในภายในที่ไม่ทำปฏิกิริยา มีฉนวนที่ดีเยี่ยมสำหรับการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว และประตูที่ปิดสนิทพร้อมหน้าต่างสำหรับมองเห็น
• การควบคุมอุณหภูมิที่แม่นยำ ระบบขั้นสูงทำให้อุณหภูมิอยู่ในช่วง -60°C ถึง +180°C โดยมีความสม่ำเสมอ ±1°C ใช้ส่วนประกอบทำความร้อน/ทำความเย็นที่มีประสิทธิภาพสูง วงจรป้อนกลับที่ซับซ้อน และเซ็นเซอร์หลายตัวสำหรับการเปลี่ยนแปลงที่แม่นยำและรวดเร็ว
• การไหลเวียนของอากาศและการถ่ายเทที่มีประสิทธิภาพ ระบบไหลเวียนของอากาศประสิทธิภาพสูงช่วยให้มั่นใจได้ถึงการกระจายอุณหภูมิที่สม่ำเสมอ ตะกร้าถ่ายเทความร้อนช่วยให้เคลื่อนย้ายระหว่างโซนอุณหภูมิได้อย่างราบรื่นโดยไม่ส่งผลกระทบต่อความสมบูรณ์ของตัวอย่าง

• ปริมาตรและขนาดที่ปรับแต่งได้เพื่อรองรับขนาดส่วนประกอบต่างๆ
• ช่วงอุณหภูมิ: -60°C ถึง +180°C
• การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว (5-10 นาที)
• ความสม่ำเสมอของอุณหภูมิภายใน ±1°C

ห้องทดสอบแต่ละห้องผลิตภายใต้การควบคุมคุณภาพอย่างเข้มงวดด้วยส่วนประกอบที่มาจากแหล่งที่มาอย่างระมัดระวัง การสอบเทียบเป็นประจำโดยใช้มาตรฐานที่ตรวจสอบย้อนกลับได้ช่วยให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำและความสามารถในการทำซ้ำของผลการทดสอบ การตรวจสอบคุณภาพอย่างเข้มงวดรักษามาตรฐานผลิตภัณฑ์สูงสุด